離子遷移譜技術
經(jīng)典離子遷移譜（IMS）技術的檢測原理是待測物質(zhì)分子在進樣口加熱氣化后，經(jīng)過具有選擇滲透功能的半透膜后進入遷移管。這些不同種類的分子被電離源電離后形成分子離子團，它們在遷移管電場的作用下以各自不同的速度向檢測器發(fā)生遷移并最終在檢測器上形成電流脈沖，從而產(chǎn)生以遷移時間為橫軸、以電流強度為縱軸的離子遷移譜圖。由于遷移的速度和質(zhì)量、體積大小和所帶電荷有關，在圖譜上就可以通過不同位置的尖峰來區(qū)分不同的物質(zhì)。
除了經(jīng)典的離子遷移技術外，隨著技術的發(fā)展，又衍生出高電場非對稱波形離子遷移譜（FAIMS）等新的發(fā)展方向。
由于同時具備能在大氣壓力條件下工作、探測靈敏度高、分析時間快、體積小、重量輕和功耗低等特點，基于IMS技術的檢測已成為目前實用的痕量檢測方法，在毒品、爆炸物探測、化學戰(zhàn)劑檢測、工廠有毒氣體監(jiān)測等領域得到廣泛的應用。
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